Показана возможность использования метода электронного парамагнитного резонанса при изучении тонкой структуры стекол и стеклокристаллических материалов, а также для обнаружения и идентификации дефектов в стеклах, что позволит увеличить однородность стекла и повысить его эксплуатационные характеристики. Обсуждаются спектры парамагнитных ионов (Cu2+; V4+; Ti3+; Mo5+; Mn2+; Fe3+). Рассматриваются конкретные примеры обнаружения этих ионов в ситаллах, в которые они введены в качестве поверхностно-активных добавок или присутствуют как примеси, попавшие в кристаллизуемое стекло через сырьевые материалы.
NULL
Статью можно приобрести
в электронном виде!
PDF формат
700 руб
УДК 666.1
Тип статьи:
Наука - стекольному производству
Оформить заявку