Изучена структура глушенного фосфором стекла с помощью методов аннигиляции позитронов, рентгенофазового и электронно-микроскопического анализа в зависимости от тепловой предыстории. Обнаружены структурные различия в зависимости от толщины стенки изделия и температурного режима отжига. Метод предлагается использовать для экспресс-анализа однородности и степени отжига непрозрачных стекол. Табл. 1, ил. 4, библиогр.: 4 назв.
NULL
NULL
Статью можно приобрести
в электронном виде!
PDF формат
Нет в продаже
УДК 666.263:666.11.01:539.213.1
Тип статьи:
Наука - стекольному производству
Оформить заявку
