Методами рентгеноэлектронной спектроскопии, вторично-ионной масс-спектрометрии и оптической микроскопии исследованы дефекты тонких алюминиевых покрытий на силикатных стеклах. Рассмотрены причины возникновения дефектов. Табл. 1, ил. 1, библиогр.: 2 назв.
NULL
NULL
Статью можно приобрести
в электронном виде!
PDF формат
Нет в продаже
УДК 666.1.056:546.621.004.64
Тип статьи:
Покрытия. Эмали.
Оформить заявку
