В композиции эмаль - благородный металл образование общего диффузного слоя изучено недостаточно. Использование методов вторичной масс-спектроскопии, позволяющей определить элементный состав соприкасающихся слоев, а также электронной микроскопии дало возможность определить элементный состав контактирующих слоев этих материалов.
Петцольд А., Пёшманн Г. Эмаль и эмалирование: справ. изд.: пер. с нем. М.: Металлургия, 1990. 576 с.
Брагина Л. Л., Зубехин А. П., Белый Я. И. и др. Технология эмали и защитных покрытий: учеб. пособие. Харьков: НТУ "ХПИ"; Новочеркасск: ЮРГТУ (НПИ), 2003. 484 с.
Hutter H. Dynamic Secondary Ion Spectrometry. In Surface and thin film analysis // Principles, Instrumentation, Application / Ed. H. Bebert, H. Jenett. L.: Wiley-VCH VerlagGmBH, 2002.
Фелдман Л., Майер Дж. Основы анализа поверхности и тонких пленок: пер. с англ. М.: Мир, 1989. 344 с.
Статью можно приобрести
в электронном виде!
PDF формат
700 руб
УДК 666.295
Тип статьи:
Покрытия. Эмали.
Оформить заявку
